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100304F 데이터시트 PDF




National Semiconductor에서 제조한 전자 부품 100304F은 전자 산업 및 응용 분야에서
광범위하게 사용되는 반도체 소자입니다.


 

PDF 형식의 100304F 자료 제공

부품번호 100304F 기능
기능 Low Power Quint AND/NAND Gate
제조업체 National Semiconductor
로고 National Semiconductor 로고


100304F 데이터시트 를 다운로드하여 반도체의 전기적 특성과 매개변수에 대해 알아보세요.




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100304F 데이터시트, 핀배열, 회로
August 1998
100304
Low Power Quint AND/NAND Gate
General Description
The 100304 is monolithic quint AND/NAND gate. The Func-
tion output is the wire-NOR of all five AND gate outputs. All
inputs have 50 kpull-down resistors.
Features
n Low Power Operation
n 2000V ESD protection
n Pin/function compatible with 100104
n Voltage compensated operating range = −4.2V to −5.7V
n Available to industrial grade temperature range
n Available to Standard Microcircuit Drawing
(SMD) 5962-9153701
Logic Symbol
DS100304-1
Logic Equation
F = (D1a D2a) + (D1b D2b) + D1c D2c) + (D1d D2d) + (D1e D2e).
Pin Names
Dna– Dne
F
Oa– Oe
Oa– Oe
Description
Data Inputs
Function Output
Data Outputs
Complementary Data Outputs
© 1998 National Semiconductor Corporation DS100304
www.national.com




100304F pdf, 반도체, 판매, 대치품
AC Electrical Characteristics
VEE = −4.2V to −5.7V, VCC = VCCA = GND
Symbol
Parameter
TC = −55˚C
Min Max
TC = +25˚C
Min Max
TC = +125˚C Units Conditions
Min Max
Notes
tPLH Propagation Delay
0.30 1.90 0.40 1.80 0.30 2.30 ns
tPHL
Dna–Dne to O, O
(Notes 7, 8, 9)
tPLH Propagation Delay
0.80 2.90 0.90 2.80 0.90 3.40 ns Figures 1, 2
tPHL
Data to F
tTLH Transition Time
0.20 1.80 0.30 1.60 0.20 2.00 ns
(Note 10)
tTHL 20% to 80%, 80% to 20%
Note 7: F100K 300 Series cold temperature testing is performed by temperature soaking (to guarantee junction temperature equals −55˚C), then testing immediately
after power-up. This provides “cold start” specs which can be considered a worst case condition at cold temperatures.
Note 8: Screen tested 100% on each device at +25˚C temperature only, Subgroup A9.
Note 9: Sample tested (Method 5005, Table I) on each mfg. lot at +25˚C, Subgroup A9, and at +125˚C and −55˚C temperatures, Subgroups A10 and A11.
Note 10: Not tested at +25˚C, +125˚C, and −55˚C temperature (design characterization data).
Test Circuitry
Notes:
VCC, VCCA = +2V, VEE = −2.5V
L1 and L2 = equal length 50impedance lines
RT = 50terminator internal to scope
Decoupling 0.1 µF from GND to VCC and VEE
All unused outputs are loaded with 50to GND
CL = Fixture and stray capacitance 3 pF
DS100304-5
FIGURE 1. AC Test Circuit
www.national.com
4

4페이지










100304F 전자부품, 판매, 대치품
Physical Dimensions inches (millimeters) unless otherwise noted
24-Pin Ceramic Dual-In-Line Package (D)
NS Package Number J24E
24-Pin Quad Cerpak (F)
NS Package Number W24B
7
www.national.com

7페이지


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