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74F113 데이터시트 PDF




NXP Semiconductors에서 제조한 전자 부품 74F113은 전자 산업 및 응용 분야에서
광범위하게 사용되는 반도체 소자입니다.


PDF 형식의 74F113 자료 제공

부품번호 74F113 기능
기능 Dual J-K negative edge-triggered flip-flops without reset
제조업체 NXP Semiconductors
로고 NXP Semiconductors 로고


74F113 데이터시트 를 다운로드하여 반도체의 전기적 특성과 매개변수에 대해 알아보세요.




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74F113 데이터시트, 핀배열, 회로
INTEGRATED CIRCUITS
74F113
Dual J-K negative edge-triggered
flip-flops without reset
Product specification
IC15 Data Handbook
1991 Feb 14
Philips
Semiconductors




74F113 pdf, 반도체, 판매, 대치품
Philips Semiconductors
Dual J-K negative edge-triggered flip-flops
without reset
Product specification
74F113
DC ELECTRICAL CHARACTERISTICS
(Over recommended operating free-air temperature range unless otherwise noted.)
SYMBOL
PARAMETER
TEST CONDITIONS1
LIMITS
UNIT
MIN TYP2 MAX
VOH High-level output voltage
VCC = MIN, VIL = MAX,
VIH = MIN
IOH = MAX
±10%VCC
±5%VCC
2.5
2.7
3.4
V
V
VOL Low-level output voltage
VCC = MIN, VIL = MAX,
VIH = MIN
IOL = MAX
±10%VCC
±5%VCC
0.30 0.50
0.30 0.50
V
V
VIK Input clamp voltage
VCC = MIN, II = IIK
–0.73 –1.2 V
II Input current at maximum input voltage VCC = MAX, VI = 7.0V
100 µA
IIH High-level input current
VCC = MAX, VI = 2.7V
20 µA
Jn, Kn
–0.6 mA
IIL
Low-level input current
CPn
VCC = MAX, VI = 0.5V
–2.4 mA
SDn –3.0 mA
IOS Short-circuit output current3
VCC = MAX
-60 –150 mA
ICC Supply current4 (total)
VCC = MAX
15 21 mA
NOTES:
1. For conditions shown as MIN or MAX, use the appropriate value specified under recommended operating conditions for the applicable type.
2. All typical values are at VCC = 5V, Tamb = 25°C.
3. Not more than one output should be shorted at a time. For testing IOS, the use of high-speed test apparatus and/or sample-and-hold
techniques are preferable in order to minimize internal heating and more accurately reflect operational values. Otherwise, prolonged shorting
of a high output may raise the chip temperature well above normal and thereby cause invalid readings in other parameter tests. In any
sequence of parameter tests, IOS tests should be performed last.
4. Measure ICC with the clock input grounded and all outputs open, then with Q and Q outputs high in turn.
AC ELECTRICAL CHARACTERISTICS
SYMBOL
PARAMETER
TEST
CONDITION
fmax Maximum clock frequency Waveform 1
tPLH Propagation delay
tPHL CPn to Qn or Qn
Waveform 1
tPLH Propagation delay
tPHL SDn, to Qn or Qn
Waveform 2
VCC = +5.0V
Tamb = +25°C
CL = 50pF
RL = 500
MIN TYP MAX
85 100
2.0 4.0 6.0
2.0 4.0 6.0
2.0 4.5 6.5
2.0 4.5 6.5
LIMITS
VCC = +5.0V ± 10%
Tamb = 0°C to +70°C
CL = 50pF
RL = 500
MIN MAX
80
2.0 7.0
2.0 7.0
2.0 7.5
2.0 7.5
VCC = +5.0V ± 10%
Tamb = –40°C to +85°C
CL = 50pF
RL = 500
MIN MAX
80
2.0 7.5
2.0 7.0
2.0 8.0
2.0 7.5
UNIT
ns
ns
ns
AC SETUP REQUIREMENTS
SYMBOL
PARAMETER
tsu (H)
tsu(L)
th (H)
th (L)
tw (H)
tw (L)
tw (L)
trec
Setup time, high or low
Jn, Kn to CPn
Hold time, high or low
Jn, Kn to CPn
CP pulse width,
high or low
SDn pulse width, low
Recovery time
SDn to CPn
TEST
CONDITION
Waveform 1
Waveform 1
Waveform 1
Waveform 2
Waveform 2
VCC = +5.0V
Tamb = +25°C
CL = 50pF
RL = 500
MIN TYP MAX
4.0
3.5
0.0
0.0
4.5
4.5
4.5
LIMITS
VCC = +5.0V ± 10%
Tamb = 0°C to +70°C
CL = 50pF
RL = 500
MIN MAX
5.0
4.0
0.0
0.0
5.0
5.0
5.0
VCC = +5.0V ± 10%
Tamb = –40°C to +85°C
CL = 50pF
RL = 500
MIN MAX
5.0
4.5
0.0
0.0
5.0
5.0
5.0
UNIT
ns
ns
ns
ns
4.5 5.0 5.0
ns
1996 Mar 14
4

4페이지










74F113 전자부품, 판매, 대치품
Philips Semiconductors
Dual J-K negative edge-triggered flip-flops without reset
DIP14: plastic dual in-line package; 14 leads (300 mil)
Product specification
74F113
SOT27-1
1996 Mar 14
7

7페이지


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