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LURFVG3392-PF 데이터시트 PDF




LIGITEK electronics에서 제조한 전자 부품 LURFVG3392-PF은 전자 산업 및 응용 분야에서
광범위하게 사용되는 반도체 소자입니다.


PDF 형식의 LURFVG3392-PF 자료 제공

부품번호 LURFVG3392-PF 기능
기능 DURL COLOR LED LAMPS
제조업체 LIGITEK electronics
로고 LIGITEK electronics 로고


LURFVG3392-PF 데이터시트 를 다운로드하여 반도체의 전기적 특성과 매개변수에 대해 알아보세요.



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LURFVG3392-PF 데이터시트, 핀배열, 회로
DURL COLOR LED LAMPS
LIGITEK ELECTRONICS CO.,LTD.
Property of Ligitek Onlwyww.DataSheet4U.com
Pb
Lead-Free Parts
LURFVG3392-PF
DATA SHEET
DOC. NO : QW0905-LURFVG3392-PF
REV. : A
DATE : 05 - Mar. - 2007




LURFVG3392-PF pdf, 반도체, 판매, 대치품
PART NO. LURFVG3392-PF
LIGITEK ELECTRONICS CO.,LTD.
Property of Ligitek Only
www.DataSheet4U.com
Page 3/6
Typical Electro-Optical Characteristics Curve
URF CHIP
Fig.1 Forward current vs. Forward Voltage
Fig.2 Relative Intensity vs. Forward Current
1000
100
10
1.0
0.1
1.0
1.5 2.0 2.5
Forward Voltage(V)
3.0
3.5
3.0
2.5
2.0
1.5
1.0
0.5
0
1.0
10 100
Forward Current(mA)
1000
Fig.3 Forward Voltage vs. Temperature
1.2
1.1
1.0
0.9
0.8
-40 -20
-0
20 40 60 80 100
Ambient Temperature()
Fig.4 Relative Intensity vs. Temperature
3.0
2.5
2.0
1.5
1.0
0.5
0
-40 -20 -0 20 40 60 80 100
Ambient Temperature()
Fig.5 Relative Intensity vs. Wavelength
1.0
0.5
0
550
600 650
Wavelength (nm)
700

4페이지










LURFVG3392-PF 전자부품, 판매, 대치품
PART NO. LURFVG3392-PF
Reliability Test:
LIGITEK ELECTRONICS CO.,LTD.
Property of Ligitek Only
www.DataSheet4U.com
Page 6/6
Test Item
Operating Life Test
High Temperature
Storage Test
Low Temperature
Storage Test
Test Condition
1.Under Room Temperature
2.If=20mA
3.t=1000 hrs (-24hrs, +72hrs)
1.Ta=105 ℃±5
2.t=1000 hrs (-24hrs, +72hrs)
1.Ta=-40 ℃±5
2.t=1000 hrs (-24hrs, +72hrs)
Description
This test is conducted for the purpose
of detemining the resistance of a part
in electrical and themal stressed.
Reference
Standard
MIL-STD-750: 1026
MIL-STD-883: 1005
JIS C 7021: B-1
The purpose of this is the resistance of
the device which is laid under condition
of high temperature for hours.
MIL-STD-883:1008
JIS C 7021: B-10
The purpose of this is the resistance
of the device which is laid under
condition of low temperature for hours.
JIS C 7021: B-12
High Temperature
High Humidity Test
Thermal Shock Test
Solder Resistance
Test
Solderability Test
1.Ta=65 ℃±5
2.RH=90 %~95 %
3.t=240hrs ±2hrs
The purpose of this test is the resistance
of the device under tropical for hours.
MIL-STD-202:103B
JIS C 7021: B-11
1.Ta=105 ℃±5&-40℃±5
(10min) (10min)
2.total 10 cycles
1.T.Sol=260 ℃±5
2.Dwell time= 10 ±1sec.
1.T.Sol=230 ℃±5
2.Dwell time=5 ±1sec
The purpose of this is the resistance of
the device to sudden extreme changes
in high and low temperature.
This test intended to determine the
thermal characteristic resistance
of the device to sudden exposures
at extreme changes in temperature
when soldering the lead wire.
This test intended to see soldering well
performed or not.
MIL-STD-202: 107D
MIL-STD-750: 1051
MIL-STD-883: 1011
MIL-STD-202: 210A
MIL-STD-750: 2031
JIS C 7021: A-1
MIL-STD-202: 208D
MIL-STD-750: 2026
MIL-STD-883: 2003
JIS C 7021: A-2

7페이지


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